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技术参数
TEM点分辨率：0.23 nm；TEM信息分辨率：0.12 nm
STEM分辨率：0.16 nm；极靴间距：5.4 mm
EELS能量分辨率： ≤0.8 eV
Talos F200X 扫描透射电子显微镜在所有维度下均可实现极快速精准的 EDS 分析， 以及在进行动态显微镜检查时实现导航快速的高分辨率 TEM 和 STEM（HRTEM 和 HRSTEM） 成像
支持三维重构 、 纳米束衍射等高级模式， 为材料科学 、 纳米技术及能源研究领域提供全面的微观结构与成分解析解决方案
