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技术参数
TEM分辨率：<70pm@300kV
STEM分辨率(束流>100p时) ： <96pm@60kV ，<50pm@300kV
配备洛仑兹透镜，球差校正洛仑兹模式下信息分辨率:<1.0nm@300kV
同步/无缝集成超高分辨率成像与高性能成分/电子结构分析（EDS/EELS）
配备气相、液相、冷冻样品杆，通过原位系列解决方案，支持在冷却、电学测量、液体环境等条件下，实时、动态地观察材料在原子尺度的结构、成分和性质变化。
