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高分辨表界面微区化学成分分析系统（布鲁克 Dimension IconIR）

一款集成了原子力显微镜 (AFM) 与红外光谱 (IR) 技术的先进纳 米尺度化学表征系统。其核心技术基于光热诱导共振 (PTIR) 原 理，利用 AFM 探针直接探测样品局部吸收红外光引发的热膨胀振动。它特别适用于高分子材料、生物 样品、二维材料、薄膜及复合材料等表界面的纳米级化学成分、 相分布及分子结构研究，提供形貌与化学信息的直接关联分析。

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更新时间：2026-10-10
Technical Parameters

技术参数

空间分辨率：<10 nm（基于AFM-IR探测），远优于传统红外显微技术


光谱分辨率：优于2 cm⁻¹，覆盖中红外至近红外波段


探测灵敏度：可探测单层分子膜，适用于极低浓度样品分析


应用：聚合物、生物材料、二维材料、药物载体、功能薄膜等领域中的纳米尺度化学成分分析、相分离研究及界面反应机制探测


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