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X射线显微镜系统(Zeiss Xradia 630 Versa)

一款先进的高分辨率、实验室级三维X射线显微镜。它采用独特的几何放大与光学放大两级放大成像技术,结合卓越的X射线光学器件,可在亚微米级分辨率下,对各类样品内部结构进行无损三维成像与定量分析。其灵活的样品室设计支持多样品类型与大尺寸样品的三维检测,并能集成原位实验装置,是材料科学、地质学、生命科学及工程领域进行非破坏性三维结构研究和原位表征的前沿平台。

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更新时间:2026-10-10
Technical Parameters

技术参数

业界领先分辨率: < 0.5 µm,< 500 nm 空间分辨率。


强大双射线源系统: 标配或推荐高功率(180kV)+高亮度源,无缝切换极致穿透力和极致分辨率/速度。


4D成像能力:专为高速、高分辨率时间分辨研究(力学、热、化学过程)优化,是动态过程分析的利器。


高通量扫描: 显著提升的扫描速度,尤其在高分辨率模式下,满足高通量需求。


适用对分辨率要求极高、样品复杂多变或需要动态(4D)研究的前沿应用。适用材料、半导体、生命、地质、能源等领域。


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