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X射线光电子能谱仪(AXIS SUPRA+)

一款全集成、智能化高性能X射线光电子能谱系统,专为材料表面与界面元素的化学态、成分及电子结构提供高精度分析。该系统采用高亮度单色化X射线源、高传输效率电子透镜系统及多通道检测器,结合超高真空样品制备与处理室,实现从宏观到微区的深度分辨分析。Axis Supra+凭借卓越的表面灵敏度、化学态分辨能力和原位处理功能,成为半导体、新能源、催化、纳米材料及涂层领域前沿表面科学研究的核心装备。

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更新时间:2026-10-09
Technical Parameters

技术参数

分析室真空度:≤7×10⁻⁸ Pa(钛升华泵+离子泵);进样室真空度:10⁻⁶– 10⁻⁷ Pa(涡轮分子泵+机械泵) 


能量分辨率:0.45ev@160Kcps和0.6ev@2.5Mcps;束斑尺寸:支持15 μm至大束斑可变(光阑调控)

 

空间分辨率:≤1 μm;像素:256×256,采集时间≤5分钟; 技术:球镜能量分析器(SMA)+ 延迟线检测器(DLD) 


AXIS SUPRA+ 采用单色化Al Kα射线(1486.6 eV)作为核心激发源,结合可选高能Ag Lα单色化光源(2984.3 eV),实现材料

表面(2–10 nm深度)元素成分及化学态的定性与半定量分析。通过集成离子刻蚀、平行成像及多技术附件(UPS/AES/ISS),

支持原位深度剖析、化学态面分布成像及价带结构分析。


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联系方式

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    上海市闵行区中春路7666弄C栋403B
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