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X射线吸收精细结构谱仪（RapidXAFS HE Ultra）

​高能X射线吸收精细结构谱仪是基于大型同步辐射光源装置小型化而研发的设备可以在无需同步辐射光源实现X射线吸收精细结构谱测试， 表征材料金属元素的局域原子结构和电子结构，测试数据包括近边结构、扩展边结构通过X射线吸收光谱的扩展边分析，可定性定量确定了材料的金属配位数及配位键长。通过对近边吸收结构的解析和模拟，获得了材料中金属位点处的氧化态、电子结 构，解析材料结构-性质-功能的构效关系。

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更新时间：2026-10-09
Technical Parameters

技术参数

能量范围：4.5-25keV 


能量分辨率：XANES：0.5-1.5 eV，EXAFS：1.5-10 eV 


光通量：2,000,000 photons/sec@8keV 


实现对目标原子周围配位距离、配位数、临近原子种类、吸收原子氧化态等结构分析，深入研究中心原子与邻近原子的构效关系。


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