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应用描述
布鲁克 ELEXSYS-II E 500:
作为 X 波段仪器,配备 SuperX 功能与新型信号处理单元,灵敏度极高,弱煤信噪比可达 3000:1。其分辨率出色,能清晰呈现复杂谱图。该仪器应用广泛,在化学领域,可研究金属中心与自由基;材料科学中,用于分析聚合物、半导体;生命科学里,助力探究酶结构等;医药行业内,能评估药物稳定性 ,是科研与生产分析的得力助手。
日本电子 JES-X320E:
一款高性能、高灵敏度的X波段连续波电子顺磁共振波谱仪。该系统专为精确检测和表征含有未成对电子的顺磁性物质(如自由基、过渡金属离子、点缺陷等)而设计。其核心采用高稳定性的微波桥和磁场控制系统,结合高灵敏度谐振腔(如TE011腔)和低噪声检测系统,确保在宽广的磁场范围内获得高信噪比的EPR谱图。 JES-X320具备优异的灵敏度和分辨率,并支持多种变温附件(液氮/氦),适用于研究材料的电子结构、反应动力学、自旋浓度及分布,是化学、材料科学、生物学和物理学领域进行顺磁特性研究的强大平台。
技术参数
布鲁克 ELEXSYS-II E 500:
X 波段(约 9.5 GHz),可选配 Q 波段模块扩展
0–1.5 T,高稳定性电磁铁,支持连续与脉冲模式切换
具备 ppb 级自由基检测灵敏度,适合痕量样品分析
支持时间分辨EPR(TR-EPR)与激光激发同步探测
可配置液氦或液氮变温系统,最低温度低于 4 K
高频率场调制(标准 100 kHz),适应多种宽度谱线
搭载 Bruker Xepr 软件,支持 g 因子、超精细常数、多分量拟合与模拟分析
日本电子 JES-X320E:
X 波段(中心频率约 9.4 GHz)
约 0–1.4 T(对应 g 值约 4.0 – 1.6)
自由基检测灵敏度达 1 × 10⁹ spins/G(典型),适合痕量分析
支持高分辨多组分叠加谱分析,适用于复杂体系识别
标准调制频率为 100 kHz,支持自动优化调制宽度
兼容液氮/液氦低温附件(可选),支持低至 4.2 K 的低温测量
JEOL ES-DATA 软件支持 g 因子、超精细分裂常数提取、基线校正与叠加拟合
支持时间分辨(TR-EPR)、照光附件、变温共振腔等扩展选件配置
