手持式四探针电阻率测试仪

M-3 手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率 / 方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

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更新时间:2026-10-21
Technical Parameters

技术参数

产品特征:

测试仪由 M-3 型主机和四探针探头两部分组成

手持式设计,带完善厚度、形状修正功能,测试精准

宽量程:超宽五个档位,相当于中档台式机的量程

操作简便、性能稳定:轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换,LED 数字表头显示

多款探头可选,适用于各种不同材料的导电性能测试

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工作电源:

208-240V,50/60Hz

电池供电:DC3.7V

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探头:

根据不同材料特性需要,探头可有多款选配

碳化钨探针探头(固体材料):测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料

球形或平头镀金铜合金探针探头(薄膜):可测金属箔、碳纸等导电薄膜,也可测陶瓷、玻璃或 PE 膜等基底上导电涂层膜,如金属镀膜、喷涂膜、ITO 膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层

探头头部安装有平衡基座避免人手操作的误差


选配:可选配快速恒压四探针测试台,对测试压力进行调节保证恒压测试,提高测试的精确度

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测量范围、分辨率:

电阻:0.010~50.00kΩ 分辨率:0.001~10 Ω

电阻率:0.010~20.00kΩ-cm 分辨率:0.001~10 Ω-cm

方块电阻:0.050~100.00kΩ/m2 分辨率 0.001~10Ω/m2


基本误差:±1%FSB ±2LSB


外形尺寸:210mm L × 100mm W × 36mm H


净重:0.3kg

联系方式

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  • 邮箱:

    fan8899@163.com
  • 地址:

    上海市闵行区中春路7666弄C栋403B
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